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GE Panametrics 露點儀探頭MIS PROBE2技術參數(shù)

更新時間:2024-01-26   點擊次數(shù):483次

40多年來,GE氧化鋁水分探頭一直是工業(yè)水分測量的性能和價值標準。




在使用中,M系列濕度探頭通過互連電纜連接到GE濕度計控制臺。易用性、廣泛的測量范圍和嚴格

的校準標準使這些系統(tǒng)成為全球工業(yè)濕度測量的 。




內(nèi)置壓力和溫度測量


許多濕度測量參數(shù)的精確確定需要了解過程溫度和壓力。與安裝和使用單獨的溫度和壓力傳

感器相關的不便和限制已經(jīng)消除,這兩種功能都直接內(nèi)置在Moisture Image Series探頭中。

可提供一個用于測量-30至70°C(-22至158°F)溫度的非線性NTC熱敏電阻和五個固態(tài)壓阻傳感器,

用于測量高達5000 psig(345 bar)的壓力。

超低量程Ppbv標度


Moisture Image Series 1和2分析儀的ppbv低量程是通過采用三種獨立但同樣重要的技術實現(xiàn)的。

首先,先進的新型基于微處理器的濕度圖像系列探頭具有16位分辨率,使其能夠檢測傳感器阻抗的微

小變化,從而檢測濕度水平。




當與VCR兼容配件相結合時,該傳感器在超高純度系統(tǒng)中提供 的性能。




可追溯到NIST的嚴格校準標準


每個MIS探頭的氧化鋁傳感器都在 先進的濕度校準設備中進行單獨校準。該設施經(jīng)過幾十年的

開發(fā),可產(chǎn)生精確已知的水分濃度,可追溯到美國國家標準與技術研究所(NIST),每個傳感器在校準

過程中都會暴露在該機構中。


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