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法國phasics 波前分析儀 SID4技術(shù)參數(shù)

更新時(shí)間:2023-05-09   點(diǎn)擊次數(shù):437次

 法國Phasics 公司的產(chǎn)品基于其波前測量技術(shù),即4 波橫向剪切干涉技術(shù)。(4-Wave Lateral Shearing Interferometry)。在增強(qiáng)型改進(jìn)型哈特曼掩模的基礎(chǔ)之上,這種技術(shù)將高分辨率和大動態(tài)范圍較好結(jié)合在了一起。任何應(yīng)用下,其都能實(shí)現(xiàn)全面、簡便、快速的測量。具有如下技術(shù)優(yōu)勢:高分辨率的相位圖,高分辨率可達(dá)400x300。具有直接測量高發(fā)散光束的能力消色差,匹配CCD整個(gè)探測范圍,用于不同波長光而無需額外校準(zhǔn)。應(yīng)用方向:激光束質(zhì)量分析自適應(yīng)光學(xué)光學(xué)系統(tǒng)測量生物成像熱成像,等離子體表面物理

 法國Phasics 公司的產(chǎn)品基于其波前測量技術(shù),即4 波橫向剪切干涉技術(shù)。(4-Wave Lateral Shearing Interferometry)。在增強(qiáng)型改進(jìn)型哈特曼掩模的基礎(chǔ)之上,這種技術(shù)將高分辨率和大動態(tài)范圍較好結(jié)合在了一起。任何應(yīng)用下,其都能實(shí)現(xiàn)全面、簡便、快速的測量。具有如下技術(shù)優(yōu)勢:高分辨率的相位圖,高分辨率可達(dá)400x300。具有直接測量高發(fā)散光束的能力消色差,匹配CCD整個(gè)探測范圍,用于不同波長光而無需額外校準(zhǔn)。應(yīng)用方向:激光束質(zhì)量分析自適應(yīng)光學(xué)光學(xué)系統(tǒng)測量生物成像熱成像,等離子體表面物理


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